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비동기 카운터 實驗(실험)

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작성일 22-12-07 23:21

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Download : 비동기 카운터 실험.hwp




이 글리치가 나타나는 동안 system에 문제를 야기한다.
-6번 실험은 전의 실험과 다소 다른 내용을 이야기한다. 500KHz주파수 생성기를 제거한다. TTL 회로가 견딜수 있는 주파수는 이렇게 높은 주파수가 아니기 때문에 글리치…(drop)




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비동기 카운터 實驗(실험)

설명
레포트/공학기술
순서



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다. NAND gate의 출력을 observe하고 이를 plot 6에 기록한다. NAND gate의 를 연결한다. add 2개의 입력 NAND gate를 연결하고 그림 17-6의 회로를 구성한다. 우선 회로에서 볼수 있는 것처럼 의 값이 항상 HIGH의 값이 아니고 A와 B의 출력전압이 NAND gate를 통해서 들어온 결과값을 다시 의 입력으로 하고 있따 전의 실험에서 확인했던것처럼 JK-FF에 에 LOW의 값이 들어오면 JK의 입력값에 상관없이 항상 HIGh의 값을 출력한다. 그리고 500KHz의 높은 고주파를 입력으로 하고 있다는 점이다. 비동기%20카운터%20실험_hwp_01.gif 비동기%20카운터%20실험_hwp_02.gif 비동기%20카운터%20실험_hwp_03.gif 비동기%20카운터%20실험_hwp_04.gif 비동기%20카운터%20실험_hwp_05.gif 비동기%20카운터%20실험_hwp_06.gif



비동기카운터결과레포



짧은 spike를 글리치라고 하는데, 출력은 counter의 reset을 야기한다.
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